单晶X射线衍射仪

单晶X射线衍射(X射线晶体学)是一种广泛应用的分析技术，它使用X射线准确测定结晶样品中各原子的实际位置。X射线晶体学系统一般包括专用计算机及相关硬件和软，用以进行仪器控制，数据还原，分子结构求解和精修，以及最终结果的表达和画图。是化学晶体学研究的革命性新设备。

SMART/APEX用大型Lockheed-4K-CCD仪器重新定义了化学晶体学研究的标准，新型CCD检测器，有最大的CCD产品:62mm-4K芯片，X射线完美呈像的Lockheed芯片的LMF，具有独一无二的契合性，LMF包括Fairchild半导体，它曾开发了第一个IC，第一个CCD，而现在则是最大的CCD产品-Lockheed485。

特性:
1、无缩放－无光学束锥体，1:1无缩放，可获得极高灵敏度：每个MoX射线光子可产生
~90个电子，灵敏度是原来的SMART/1K的5倍，是其他各CCD的灵敏度的8倍，无空间
畸变－可获得最优的晶胞参数。
2、无缩放使得SMART/APEX获得更高灵敏度，在传统CCD里，闪烁体所产生的光子通常
有>90%含在光子纤维束锥中损失掉，在SMART/APEX中，1:1映象把光学透过率提高了
一个数量级。
3、采用高速四口读出，四口数据读出可获得更快的输出，800kHz(4x200kHz)的有效读
出速率0.3秒读出和1.7秒的总读出时间，复式相关死时间减少为原来的1/4。
4、高分辨率：0.7
5、高灵敏度——测试晶体0.1mm3
6、快速——测试时间是原来的10%，一般晶体需3-5小时
7、多功能——可进行单晶和粉晶测试，粉晶用量仅为0.1mm3

规格及技术指标:
1、额定功率:50kv 40mA
2、Typical Sensitivity with Selected Phosphor: 17kev(Mo)91e/x-ray photo
3、Demagnification Ratio: 1:1
4、Chip Readout time: 0.3sec(binned 512)
5、Front End Pixel Size: 15um X 15um
6、NUMBER OF Pixels: 4096 X 4096
7、Active Area: 62mm X 62mm
8、Construction: 4kCCD direct images

应用:
单晶与粉晶衍射强度数据收集、晶胞测定、结构解析，包括纤维定向粉晶衍射分析，微量微区粉晶衍射分析，单晶样品中粉晶包裹体衍射分析，晶体变化研究，还可用于金属与合金微晶集合体,高分子聚合体研究，磁性流体研究等领域。对于分析物质的结晶度、质构分析、应力研究等分析应用方面也是一种新的研究手段。